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场发射透射电子显微镜F20测试

  • 型号:EKYS-105
  • 库存状态:有现货
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卖家资料

  • keysci
  • 省/直辖市: 山东省
  • 城市/区: 济宁市
  • 公司名称: 天合科研
  • 累计售出: 2
  • 商品数量: 30
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分析样例

1)    样例 2)    样例 3)    样例

适用领域

    Tecnai G2 F20 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜,它将各种透射电镜技术(包括TEM、SEAD、STEM、EDX频谱成像等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能: 1)    形貌分析:它获得非晶材料的质厚衬度像,多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像 (原子像) 2)    结构分析:观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析,如:高分辨电子显微观察,系列欠焦像分析及出射波函数重构、电子衍射,会聚束电子衍射,纳米束衍射、Z-衬度(原子序数)成像等 3)    成分分析:小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。反映样品组织形态的形貌及样品晶格条纹图象,可获得无机材料、有机材料,以及无机有机复合材料,尤其是粉体材料、纳米材料、纳米复合材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征;也可用于多相金属负载催化剂的晶型识别及粒子大小及其分布的表征

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)    粉末样品要求:干燥、在空气中稳定,粒度均匀,粒径小于20μm,粉末样品量约需30mg以上 2)    块状样品要求:测试面清洁平整,也可板状、片状或丝状,带基材的镀层等原始形状,厚度≤1cm,直径≤3cm。 3)    特殊样品:极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小,且物质性质稳定,对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。如样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质,请告知 4)    请写明测试的起始角度,2θ角扫描范围一般在5°~90°之间 5)    剧毒样品需特别注明 6)    请注明样品保存条件,如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等,注明是否回收等

收费标准

1)    无磁性样品:             形貌观察:         300元/样             高分辨晶格:     100元/样             选区衍射:        100元/样             能谱:               100元/样             暗场像:           300元/样 2)    磁性样品:             形貌观察:        500元/样品             高分辨晶格:    150元/样             选区衍射:        150元/样             能谱:               150元/样             暗场像:            500元/样             点扫、线扫、Mapping等复杂测试请咨询客服 3)    制样费:             普通铜网:         免费             微栅铜网:         20元/个             超薄碳膜:         30元/个             镍网:                50元/个             负染:                100元/样

分析仪器

仪器名称:场发射透射电子显微镜 仪器型号:Tecnai G2 F20 仪器缩写:TEM 生产厂家:美国FEI公司     Tecnai G2 F20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 F20成为材料分析研究的重要仪器。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大40o)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 F20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 F20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 F20都能够满足日益增多的样品数量

仪器技术参数

1)    最大放大: 105万倍 (1,050,000×) 2)    点分辨率: 0.24 nm 3)    加速电压: 200KV 4)    极限(信息)分辨率:0.14 nm 5)    最小束斑尺寸:0.2nm 6)    样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台 7)    最大倾转角:±40° 8)    X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92 9)    X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV