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冷场发射扫描电子显微镜测试(S4800)

  • 型号:EKYS-111
  • 库存状态:有现货
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卖家资料

  • keysci
  • 省/直辖市: 山东省
  • 城市/区: 济宁市
  • 公司名称: 天合科研
  • 累计售出: 2
  • 商品数量: 34
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分析样例

1)    样例 2)    样例

适用领域

1)    广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究 2)    在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析 3)    各种材料的形貌组织观察;材料实时微区成分分析 4)    快速的多元素面扫描和线扫描分布测量;晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量 5)    元素定量、定性成分分析 6)    晶体、晶粒的相鉴定

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)    请根据自己样品的性质及测试需求,自行查阅相关资料后,提供详细的测试条件(电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等) 2)    样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 3)    潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通

收费标准

1)    形貌观察(无磁性、10万倍以下)                120元/样 2)    形貌观察(磁性样、5万倍以下)                  200元/样 3)    EDS能谱(随形貌2个区域)                         80元/样

分析仪器

仪器名称:冷场发射扫描电镜显微镜 Hitachi S4800 仪器型号:S4800 仪器缩写: SEM 生产厂家:日本日立公司

仪器技术参数

1)    高分辨率FE-SEM对下列尖端材料进行解析时具有一定的效果 2)    对电子材料表面形状的高分辨率观察(5nm以下) 3)    对高分子复合材料的极低加速电压低损伤观察 4)    对纳米材料表面/内部结构的相辅性观察