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热场发射扫描电子显微镜分析(F250/F430)

  • 型号:EKYS-115
  • 库存状态:有现货
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卖家资料

  • keysci
  • 省/直辖市: 山东省
  • 城市/区: 济宁市
  • 公司名称: 天合科研
  • 累计售出: 2
  • 商品数量: 34
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分析样例

1)    样例 2)    样例 主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌,通过配备能谱仪。EBSD等进行材料组成与结构分析: 1)    具有高真空和低真空(<200Pa)两种模式 2)    EDAX公司能谱与电子背散射衍射(EBSD)一体化系统 3)    喷金喷碳一体化

适用领域

1)    广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究 2)    在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析;各种材料的形貌组织观察 3)    材料实时微区成分分析;快速的多元素面扫描和线扫描分布测量 4)    晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量;元素定量、定性成分分析 5)    晶体、晶粒的相鉴定

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)    请根据自己样品的性质及测试需求,自行查阅相关资料后,提供详细的测试条件(电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等) 2)    样品量不少于3 mg 3)    可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 4)    潮湿的样品不能测试 5)    有机的样品需要具体沟通

收费标准

1)    形貌观察(无磁性、10万倍以下)               120元/样 2)    形貌观察(磁性样、5万倍以下)                 200元/样 3)    EDS能谱 (随形貌2个区域)                       80元/样 4)    单独EDS能谱(无磁性)                             120元/样 5)    单独EDS能谱(磁性样)                             200元/样 6)    Mapping(无磁性1个区域)                           300元/样 7)    Mapping(磁性1个区域)                              400元/样

分析仪器

仪器名称:热场发射扫描电镜显微镜 仪器型号:QUANTA250/QUANTA430 仪器缩写: FE-SEM 生产厂家:美国FEI公司 热重分析仪是在程序控温下,测量物质的质量随温度(或时间)的变化关系的仪器,用来测定样品在某种特定的气氛中重量与温度和时间的函数关系,并测定分解气体的组成的仪器,同时可以对材料分解动力学进行研究,广泛应用于无机陶瓷、金属材料、塑料、橡胶、涂料、药物与复合材料等领域,可以对材料进行分解动力学、热稳定性、氧化稳定性、吸附与解吸附、组分分析、挥发份分析、填充物含量的定量分析等研究。

仪器技术参数

1)    分辨率 二次电子(SE)像 2)    高真空模式 1.0nm @ 15kV ;1.6nm @ 1kV 3)    低真空模式  1.8nm @ 30kV 4)    放大倍率:35~1 000 000倍,根据加速电压和工作距离的改变,放大倍数自动校准 5)    加速电压:0.2 - 30kV 着陆电压:0.05-30kV 6)    样品室:样品室左右直径为284mm,可安装EDS+EBSD附件 7)    样品台:同心样品台,五轴自动移动最大范围指标:X=Y=100mm,z=60mm 8)    连续旋转:R=360° 9)    倾斜角T:范围-5°~70° 10)    探测器:二次电子:E-T二次电子检测器,TLD二次电子检测器,LVD低真空二次电子探测器 11)    背散射电子:固体背散射电子检测器,TLD背散射电子检测器,样品室IR-CCD相机