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原子力显微镜测试(Veeco-Multimode-V)

  • 型号:EKYS-121
  • 库存状态:有现货
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卖家资料

  • keysci
  • 省/直辖市: 山东省
  • 城市/区: 济宁市
  • 公司名称: 天合科研
  • 累计售出: 2
  • 商品数量: 30
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测试样例

1)    纳米颗粒 Figure 1 The AFM height image of nanoparticles 2)    纳米纤维 Figure 2 The AFM height image of nanowires 3)    纳米片 Figure 3 The AFM height image of nanosheets (left), section analysis (middle),and AFM amplitude image (right) Figure 4 The AFM height image of nanosheets (left) and its section analysis (right) 4)    纳米涂层 Figure 5 The AFM height image of nanocoating (left), 3D AFM image (middle) and its roughness analysis (right) Figure 6 The AFM height image of porous coating 5)    沥青涂层 Figure 7 The AFM height image (left) and AFM phase image (right) of asphalt coating 6)    金黄色葡萄球菌 Figure 8 The AFM height image (left), AFM 3D image (middle) and AFM amplitude image (right) of Staphylococcus aureus

适用领域

1)    零维纳米颗粒、量子点的粒径分布分析,如碳量子点、合成纳米颗粒、载药纳米微球等 2)    一维纳米线、纳米棒形貌分析,如碳纳米纤维、纳米纤维素、蛋白多糖纤维、DNA链等 3)    二维纳米片的表面形貌和高度分析,如石墨烯、类石墨烯二维片的高度分析 4)    薄膜表面3D AFM图和粗糙度分析,如阵列纳米棒表面和多孔表面 5)    聚合物组成相图分析,如沥青表面不同组分的相图 6)    生物细胞表面分析,如大肠杆菌和金黄色葡萄球菌 7)    纳米材料表面形貌精确分析、薄膜样品粗糙度分析、纳米颗粒(量子点)粒径分布、二维纳米片高度分析、样品表面起伏状态精确3D AFM成像等

面向学科

应用于化学、生物、材料及食品学科等不同研究领域

样品要求

1)    薄膜样品:直径小于12 mm,高度小于3 mm,要求样品上下表面平整,高低起伏小于1μm,如尺寸超过范围需收取相应加工费 2)    液体样品:请配好胶体溶液,保证样品均匀分散,要求无沉积,溶液澄清透明。样品如需超声或稀释请事先说明,稀释请提供相应的溶剂(去离子水除外),并说明稀释倍数。液体样品一般涂到新鲜解离的云母片上,如样品在云母片上吸附不好,请客户自行将样品涂到其他底材上(如硅片)进行测样; 3)    固体粉末样品:由于AFM是盲扫,对样品的分散性要求非常高,因此最好是以液体的形式进行测试。固体粉末样品一般只适合溶解性或分散性较好的样品,通常提供不超过30 min的超声预处理,溶剂由客户提供(去离子水除外),并由客户提供详细的制样条件 4)    生物样品:蛋白、细胞及DNA等样品,请提供详细的制样过程,由于溶液中含有盐,因此请调好浓度,减少盐对测试结果的影响 5)    由于样品分布的不均匀性,请客户提供样品的SEM或TEM图,或者提供参考文献中AFM的效果图,以提高结果的准确性 备注:请客户提供样品的成分信息,如样品具有腐蚀性、传染性等危害,请在寄样前确认能否测量,并提供相应的防护措施

收费标准

1)     薄膜样品                                         300元/样 2)     固体样品(块状或有基底)               400元/样 3)     粉末/液体样品                                  500元/样 4)     纤维样品                                           600元/样

分析仪器

仪器名称:原子力显微镜 Atomic Force Microscopy 仪器型号:Multimode V 仪器缩写:AFM 生产厂家:美国Veeco公司     原子力显微镜是一种多功能的表征纳米材料表面的工具,其原理是将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另 一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息,主要用于纳米材料、生物、医学、化学、物理等各方面的表面形貌进行精确表征、高度分析、粗糙度计算等

仪器技术参数

    默认采用轻敲模式在空气中对样品进行扫描,扫描范围除客户要求外一般在5μm × 5μm以内,记录AFM高度(Height)图和振幅(amplitude)图,同一样品扫描3~5张图。扫描探针有2种可供选择,其曲率半径均小于10 nm,一种为弹性系数较大的硅探针,其共振频率在320 kHz左右(适合扫描较硬的无机材料),另一种为弹性系数较小的硅探针,共振频率在120 kHz左右(适合扫描较软的生物材料)