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X射线荧光光谱仪测试

  • 型号:EKYS-249
  • 库存状态:有现货
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标签 易科研自营, ekeyan.com, X射线荧光光谱仪测试

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X射线荧光光谱仪测试

适用领域

    1) 可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控     2) 能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析     3) 多层镀膜的每层元素定性定量分析,膜厚测     4) 样品微区分析

面向学科

    材料、冶金、地矿

样品要求

    1) 定性半定量分析:最好是粉末样品,粒度不超过180目,需2-4 g; 如果为固体样块,要求表面平整光洁无污染,直径34-38 mm,厚度为3-5 mm的圆柱; 如果为液体,需要5-15 ml。 定性半定量数据需注明要求氧化物形式或者单质形式     2) 定量分析:只能分析粉末,结果为氧化物形式,需3-5 g

收费标准

    250元/样品

测试仪器

    仪器名称    X射线荧光光谱仪     仪器型号    Axios max     仪器厂家    荷兰帕纳科     关键字    XRF、X射线荧光光谱     仪器简要    

仪器参数

    1) 品牌:荷兰帕纳科型号:Axios MAX     2) 电源电压:220(V)     3) 功率:4K(W)     4) 靶材:铑银等管     5) 电流:160(mA)     6) 误差:小余0.05%     7) 检测范围:ppm-99.9%     8) 检测元素:Be-U     9) 测试时间:60-120秒