X射线荧光光谱仪测试
适用领域
1) 可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控 2) 能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析 3) 多层镀膜的每层元素定性定量分析，膜厚测 4) 样品微区分析
面向学科
材料、冶金、地矿
样品要求
1) 定性半定量分析：最好是粉末样品，粒度不超过180目，需2-4 g； 如果为固体样块，要求表面平整光洁无污染，直径34-38 mm，厚度为3-5 mm的圆柱； 如果为液体，需要5-15 ml。 定性半定量数据需注明要求氧化物形式或者单质形式 2) 定量分析：只能分析粉末，结果为氧化物形式，需3-5 g
收费标准
250元/样品
测试仪器
仪器名称 X射线荧光光谱仪
仪器型号 Axios max
仪器厂家 荷兰帕纳科
关键字 XRF、X射线荧光光谱
仪器简要
仪器参数
1) 品牌：荷兰帕纳科型号：Axios MAX 2) 电源电压：220（V） 3) 功率：4K（W） 4) 靶材：铑银等管 5) 电流：160（mA） 6) 误差：小余0.05% 7) 检测范围：ppm-99.9% 8) 检测元素：Be-U 9) 测试时间：60-120秒
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