最新型高分辨场发射透射电镜(TEM)

最新型高分辨场发射透射电子显微镜

High-Resolution Field emission transmission electron microscope

适用领域

1)    主要用于分析金属、半导体、陶瓷、高分子、纳米材料的内部显微结构，可结合能量过滤系统/X-射线能谱对材料进行微区成分分析 2)    提供微米直到原子尺度的形貌、晶体结构、化学成分、界面及晶体缺陷等方面的信息

面向学科

广泛应用于化学、物理学、材料科学、地质学、生物学、医学、高分子、环境科学等领域

样品要求

几十纳米以下的薄层样品或者粉末，耐电子束辐照，没有磁性、放射性、毒性和挥发性

收费标准

形貌400元，形貌+高分辨500元，衍射+800元，简单制样免费

测试仪器

仪器名称：场发射透射电子显微镜 仪器英文名：Field emission transmission electron microscope 仪器型号：JEM-3200FS 生产厂家：日本电子(JEOL) 标       签：场发射高分辨透射电子显微镜，点扫射，线扫射，非磁性透射，mapping，能谱

主要技术指标

1)    分辨率 ：点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.10nm；能量分辨率：0.9eV 2)    放大倍数 ：2,500～1,500,000 3)    电子枪 ：肖特基场发射电子枪 4)    加速电压 ：100/200/300kV 5)    束斑尺寸 ：TEM 模式：2～5 nm Φ；EDS、NBD、CBD 模式：0.4～1.6 nm Φ 6)    其他 ：聚焦长度：3.0 mm；最小聚焦步长：1.4nm；最大会聚角：±10º；球差系数：1.1 mm；色 7)    差系数： ：1.8 mm；选区衍射相机常数：200～2,000 mm

主要配置与附件

1)    相机 ：型号：Gatan 994 Ultriscan； 像素：2048×2048 2)    样品杆 ：超倾样品杆（±80°倾转）；单倾样品杆；原位加热单倾样品杆（RT～1300℃）；原位加电样品杆（0～5 V）；原位拉伸单倾样品杆；真空转移杆 3)    其他 ：电子能量损失谱及能量过滤成像系统；高角环形暗场探测器 (HAADF)；明、暗场探测器；扫描透射系统(STEM)；NORAN System 7 X-射线能谱仪 (EDS)