0 个商品 - ¥0.00

最新型高分辨场发射透射电镜(TEM)

  • 型号:EKYS-261
  • 库存状态:有现货
¥400.00

+ -

0 评论 / 发表评论


标签 易科研自营, ekeyan.com, 最新型JEM-3200FS高分辨场发射透射电子显微镜(TEM)

询问关于该商品的问题

注意 评论内容不支持HTML代码!

最新型高分辨场发射透射电子显微镜

High-Resolution Field emission transmission electron microscope

适用领域

1)    主要用于分析金属、半导体、陶瓷、高分子、纳米材料的内部显微结构,可结合能量过滤系统/X-射线能谱对材料进行微区成分分析 2)    提供微米直到原子尺度的形貌、晶体结构、化学成分、界面及晶体缺陷等方面的信息

面向学科

广泛应用于化学、物理学、材料科学、地质学、生物学、医学、高分子、环境科学等领域

样品要求

几十纳米以下的薄层样品或者粉末,耐电子束辐照,没有磁性、放射性、毒性和挥发性

收费标准

形貌400元,形貌+高分辨500元,衍射+800元,简单制样免费

测试仪器

仪器名称:场发射透射电子显微镜 仪器英文名:Field emission transmission electron microscope 仪器型号:JEM-3200FS 生产厂家:日本电子(JEOL) 标       签:场发射高分辨透射电子显微镜,点扫射,线扫射,非磁性透射,mapping,能谱

主要技术指标

1)    分辨率 :点分辨率:0.19nm;线分辨率:0.10nm;能量分辨率:0.9eV 2)    放大倍数 :2,500~1,500,000 3)    电子枪 :肖特基场发射电子枪 4)    加速电压 :100/200/300kV 5)    束斑尺寸 :TEM 模式:2~5 nm Φ;EDS、NBD、CBD 模式:0.4~1.6 nm Φ 6)    其他 :聚焦长度:3.0 mm;最小聚焦步长:1.4nm;最大会聚角:±10º;球差系数:1.1 mm;色 7)    差系数: :1.8 mm;选区衍射相机常数:200~2,000 mm

主要配置与附件

1)    相机 :型号:Gatan 994 Ultriscan; 像素:2048×2048 2)    样品杆 :超倾样品杆(±80°倾转);单倾样品杆;原位加热单倾样品杆(RT~1300℃);原位加电样品杆(0~5 V);原位拉伸单倾样品杆;真空转移杆 3)    其他 :电子能量损失谱及能量过滤成像系统;高角环形暗场探测器 (HAADF);明、暗场探测器;扫描透射系统(STEM);NORAN System 7 X-射线能谱仪 (EDS)