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最新型场发射电子探针测试

  • 型号:EKYS-310
  • 库存状态:有现货
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标签 易科研自营, ekeyan.com, 场发射电子探针

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场发射电子探针

适用领域

    1) 金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定。     2) 金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域。     3) 高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析。     4) 可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测。     5) 进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

面向学科

    化学、化工、高分子、材料、金属、材料、地质等

样品要求

    1) 成分定量分析要求样品表面抛光、无划痕镜面     2) 样品形状规则、尺寸大小高度小于15mm、长宽小于25mm     3) 注意标注:样品有无毒性、挥发性等信息

收费标准

    1) WDS(波谱面分析):4个元素以内800/样,4个元素以上200元/元素,分辨率512*384;     2) WDS(波谱线分析):4个元素以内400/样,4个元素以上100元/元素;     3) WDS(波谱定量点):4个元素以内,三个相(最多5点实验结果)以内每个样品800元,4个元素以上150元/元素;     4) 微量元素和超轻元素在正常价格上增加150元/元素     5) 喷金/喷碳制样:300元/次

测试仪器

    仪器名称:场发射电子探针     仪器型号:JXA-8530F Plus     仪器厂家:日本电子     关键字:波谱面分析、波谱线分析、波谱定量点、EPMA、场发射、电子探针          仪器简要:日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),最新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供更高的通量,并保持着极高的稳定性,能实现更广泛的EPMA应用,JXA-8530F Plus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。

仪器参数

    1) 元素分析范围(WDS):: Be to U     2) X射线范围(WDS谱):0.087-9.3nm     3) X射线光谱仪数量(WDS):5     4) 样品最大尺寸: 100mm*100mm*50mm(H)     5) 加速电压: 1-30Kv(每次0.1Kv)     6) 探针电流稳定性: ±0.3%/h(10kV,50nA)     7) 二次电子图像分辨率:3 nm at WD 11 mm, 30 kV                                            20 nm at 10 kV, 10 nA, WD 11 mm                                            50 nm at 10 kV, 100 nA, WD 11 mm     8) 放大倍数: ×40 to ×300,000 (WD 11 mm)     9) 扫描图像像素分辨率:最高 5,120×3,840