0 个商品 - ¥0.00

高分辨透射电镜测试(300kv TEM)

  • 型号:EKYS-316
  • 库存状态:有现货
¥350.00

商品选项


+ -

0 评论 / 发表评论


标签 易科研自营, ekeyan.com, 热场发射高分辨扫描电镜(SEM),高分辨透射电镜测试(300kv TEM)

询问关于该商品的问题

注意 评论内容不支持HTML代码!

适用领域

    广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域

主要功能

    TEM形貌观察及衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

样本检测注意事项

    1) 样品量5mg以上,有特殊要求请及时说明     2) 明确标注样品成分     3) 要求缓冲液不具有腐蚀性     4) 对其它可能危害仪器的样品必须事先注明,并告知相关防护措施

收费标准

1) 非磁性:形貌350元,HRTEM(形貌+高分辨晶格)450元,STEM 450元,点扫+250元,线扫+250元,能谱EDS+150元,衍射+150元,mapping只需要1个位置500元;2个位置800元 2) 磁性: 形貌450元,HRTEM(形貌+高分辨晶格)600元,STEM 600元,点扫+250元,线扫+250元,能谱EDS+150元,衍射+150元,mapping只需要1个位置600元;2个位置900元 3) 说明:磁性指 Fe,Co,Ni元素或者磁铁可以有响应的材料,形貌15张;形貌+高分辨20张 4) 德国徕卡超薄切片制样:冷冻切片:700元/样 ; 常温切片:500元/样 ;包埋:100元/样;有机聚合物样品做切片都得在冷冻条件下做切片

测试仪器

    仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM)     仪器型号: Tecnai G2 F30     仪器厂家: FEI     仪器产地: 美国      Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要规格及技术指标

    1) 加速电压: 200 kV~300 kV     2) 点分辨率:0.20 nm     3) 线分辨率:0.102 nm     4) 信息限度:0.14 nm     5) TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx     6) 相机长度(mm)80 - 4,500     7) 最大衍射角度 ±12     8) STEM HAADF分辨率:0.19 nm     9) STEM放大倍数范围:150 Χ -230Mx     10) 能谱分辨率:≤ 136 eV     11) 能量过滤器分辨率:≤ 0.9 eV