高分辨透射电镜测试(300kv TEM)

适用领域

    广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域

主要功能

    TEM形貌观察及衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

样本检测注意事项

    1) 样品量5mg以上，有特殊要求请及时说明     2) 明确标注样品成分     3) 要求缓冲液不具有腐蚀性     4) 对其它可能危害仪器的样品必须事先注明，并告知相关防护措施

收费标准

1) 非磁性：形貌350元，HRTEM(形貌+高分辨晶格)450元，点扫+250元，线扫+250元，能谱EDS+150元，衍射+150元，mapping只需要1个位置500元；2个位置800元 2) 磁性： 形貌450元，HRTEM(形貌+高分辨晶格)600元，点扫+250元，线扫+250元，能谱EDS+150元，衍射+150元，mapping只需要1个位置600元；2个位置900元 3) 说明：磁性指 Fe，Co，Ni元素或者磁铁可以有响应的材料，形貌15张；形貌+高分辨20张 4) 德国徕卡超薄切片制样：冷冻切片：700元/样 ； 常温切片：500元/样 ；包埋：100元/样

测试仪器

    仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM)     仪器型号: Tecnai G2 F30     仪器厂家: FEI     仪器产地: 美国      Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要规格及技术指标

    1) 加速电压： 200 kV～300 kV     2) 点分辨率：0.20 nm     3) 线分辨率：0.102 nm     4) 信息限度：0.14 nm     5) TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx     6) 相机长度（mm）80 - 4，500     7) 最大衍射角度 ±12     8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm     9) STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx     10) 能谱分辨率：≤ 136 eV     11) 能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV