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双球差校正透射电镜测试

  • 型号:EKYS-319
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标签 易科研自营, 双球差校正透射电镜测试

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双球差校正透射电镜测试

测试样例

1)    样例1 2)    样例1

面向学科

化学、材料等相关学科

用途

双球差校正超高分辨透射电子显微镜可在亚原子尺度下对材料的微观结构、元素成分、化学价态进行观测表征和定量分析

样品要求

1)    磁性样品指:Fe,Co,Ni元素或者磁铁可以有响应的材料 2)    低熔点、易分解、磁性、毒性、放射性的样品不可测 3)    载网:粉末样品需要使用进口超薄碳膜、进口超薄微栅、进口超薄金膜(含铜的样品,且需要做EDS或EELS测试)、国产标记微栅(需要检测特定的颗粒)。 4)    样品分散:用户需要把样品研磨后,滴到载网上,研磨方法是加入酒精后,在研钵中湿磨,研磨分散效果比超声分散效果要好一些,要想分散得好,可以适当延长研磨时间。 5)    制样浓度:特别强调,样品制样浓度要高一些,以在载网周围能看到一圈黑的(如果样品是黑的)样品为宜。 6)    样品烘干:测试之前,需要在加热板、红外灯或烘箱中干燥,温度设定根据样品不同而不同,一般为100度左右就可以,石墨烯样品可以设到180度,烘烤时间1个小时以上。 7)    其它样品制样:用户可以使用FIB、电解双喷、手工等方法制备样品。     特别提醒:因球差电镜特殊要求,所有球差电镜样品均需在普通透射电镜上检测不积碳后方可测试。

收费标准

1)    非磁性粉末  :2500元/小时;每样品约2-3小时 

测试仪器

    仪器名称:双球差校正透射电子显微镜     仪器型号:FEI Titan Cubed Themis G2 300     关键字:球差、透射、电镜、HADDF、STEM、色差矫正,Quantum EELS, Super-X EDS 美国FEI公司Titan Themis G2 300,配备超高亮度场发射枪、单色器,聚光镜及物镜球差校正系统、高性能电子能量损失谱(EELS)以及X射线能量色散谱(EDX),具有极高的空间、能量分辨率以及可观的时间分辨率,可实现材料原子分辨的高速成像、原子分辨EELS及EDX二维谱、三维立体重构及纳米材料的动态原位观察。作为世界上最先进配置最齐全的电镜,该电镜pm级的分辨率大大超过了传统电镜nm级分辨率,是探究物质性能的结构本源,深入了解原子、电子结构,及探讨亚原子尺度科学问题的强大工具

技术参数

1)    聚光镜球差校正: CEOS DCOR 2)    物镜球差校正: CEOS CETCOR: 3)    加速电压:60-300 kV 4)    电子枪:超高亮度肖特基热场发射 (X-FEG) 5)    亮度:8.7 x 107 A/m2/sr/V* @ 300kV 6)    束斑电流:2 nA (0.2 nm Probe)14 nA (1.0 nm Probe) 7)    能量发散度:0.2 eV 8)    极靴间距:5.4 mm 9)    TEM信息分辨率(Non-linear) :0.06 nm 10)    STEM分辨率:0.06 nm 11)    EDS能谱:Super-X 4探头超级能谱 12)    EELS:Quantum ER/965 P 13)    CCD Camera:FEI Ceta+speed upgrade 14)    Pixel size:14 µm 15)    样品杆:普通双倾样品杆×1 能谱双倾样品杆×1 三维重构样品杆×1 加热样品杆×1 16)    样品最大倾角:±70°(三维重构) ±40°(α) / ±30°(β) 17)    倾角精度:0.01°(Step Size) 18)    样品台移动范围(X-Y) :±1 mm (motor)1.2 µm (piezo) 19)    样品台移动范围(Z) :±0.375 mm (motor) 20)    样品台位移精度:Piezo 20 pm

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