透射电子显微镜(TEM)
应用范围
1) 形貌观察：TEM观察范围内的样品 2) 高分辨像：如多相催化中小颗粒分析；晶体缺陷、晶界、相界；非晶薄膜上的纳米晶 3) 电子衍射：如确定晶体的点阵结构、测定点阵常数、晶体缺陷（位错、层错、空位等） 4) 衍射衬度成像（明场像、暗场像） 5) X射线能谱分析，元素定点分析
收费标准
1) 全部测试方法 :750元/小时; 2) 只拍摄普通形貌 :300元/样; 3) 拍摄高分辨或选区电子衍射 :100元/样; 4) 能谱分析 :100元/样; 5) 现场测试：费用翻倍
仪器信息
仪器名称: 透射电子显微镜(TEM)
仪器品牌: JEOL
仪器型号: JEM-2100
功能参数
1) 成像模式：TEM 2) 加速电压：30,60,120,200kV 3) 球差系数：1.0mm 4) 点分辨率：0.23nm 5) 晶格分辨率：0.14nm 6) 电子枪：LaB6 7) 倾斜角：±35/30° 8) 放大倍数：×2000~1500 000
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