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X射线光电子能谱仪测试(XPS)

¥100.00

  • 型号: Thermo Scientific ESCALAB 250 XI
  • 商品库存: 有现货

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X射线光电子能谱仪测试

适用领域

    XPS被广泛应用于分析无机化合物、合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水等。

面向学科

    XPS是分析研究固体表面元素成份、元素分布、元素价态和化学态等表面化学特性方面的重要仪器,原则上能分析除H、He以外的所有元素,尤其适用于分析材料表面元素的化学价等,检测灵敏度0.1%~1%原子浓度比。 XPS适于分析固体样品,形状不限,粉末样品也可以分析,但以表面光滑的片状为好,如纳米薄膜材料,催化剂,微电子材料,高分子材料,生物材料,金属材料,半导体材料,无机非金属材料等。原则上样品表面应维持欲分析状态。对表面污染的样品可采取适当措施,予以清洁,安装时应使样品与样品托有良好的电接触,具有放射性、挥发性的样品不宜分析。

样品要求

    1) 粉末样品提供10-20mg;     2) 块状/薄膜:长宽厚不超出5*5*3mm。如果样品尺寸大于5*5*3mm,会按尺寸增加费用!超过尺寸提前联系;     3)样品必须干燥,样品制备好以后,尽可能进行真空密封,减少样品吸附空气中的污染物,对于某些元素的测试,会有影响;     4) 可以测磁性样品,请送样时提前告知;     5) 特殊需求:样品含S,F,I等元素单质不能测试或其他特殊需求,请联系项目经理;     6) XPS测试需要样品用导电胶固定在样品台上,所以测过的粉末样品没法回收,块体样品回收可能也受到污染或者破坏,建议尽量不回收样品;     7) 需要特殊处理的样品,联系项目经理具体商议。

收费标准

    1) 总谱+分谱(包括C元素4个内):200元/样;     2) 刻蚀/溅射(≤30nm为一次刻蚀):100元/次;     3) 变温XPS(可测试温度范围室温-800K):400元/温度/样品     注:每增加一个元素测试费用加收50元;如无注明测试轨道为默认轨道,每个轨道计为一个关注元素,价带谱也计为1个关注元素;磁性样品加收50元处理费用。

测试仪器

    仪器名称    X射线光电子能谱仪     仪器型号    Thermo Scientific ESCALAB 250 XI / ESCALAB 250 / Thermo Scientific K-Alpha+     仪器厂家    美国ThermoFisher Scientific     关  键 字    XPS、X射线光电子能谱分析、XPS刻蚀     仪器功能:         1) 固体样品的表面成分分析、化学态分析,取样深度约为1-10nm;         2) 材料中元素的深度分析,角分辨方式,氩离子与氩团簇离子刻蚀方式;         3) 可进行样品的原位处理,如原位加热、冷却、断裂。     仪器附件:离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),单色化XPS(Al靶),双阳极(Mg/Al靶),  氩离子团簇离子枪,加热/冷却台,样品断裂台。     

仪器参数

    1) 成像分辨率小于3 µm;     2) 极限能量分辨率为0.43eV;     3) 分析室真空度优于5×10-10 mbar;     4) 能量分析范围为0-5000eV;     5) 通过能范围为1-400eV。

测试条件及要求

    1) 室温测试还是变温测试,变温测试请提供需要的温度;     2) 样品元素组成;     3) 需要测试的元素及轨道;

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