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场发射高分辨透射电镜测试(TEM)

¥100.00

  • 型号: JEM-2100F
  • 商品库存: 有现货

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高分辨透射电子显微镜测试

high-resolution transmission electron microscopy

适用领域

1)    应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 2)    利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息

面向学科

化学,生物等领域

样品要求

1)    粉体、液体、可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等); 2)    样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些; 3)    若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任; 4)    由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌。

收费标准

1)    非磁性:形貌300元,HRTEM(形貌+高分辨晶格)400元,点扫+100元,线扫+100元,能谱EDS+100元,衍射+100元,mapping只需要1个位置450元;2个位置700元 2)    磁性: 形貌400元,HRTEM(形貌+高分辨晶格)550元,点扫+150元,线扫+150元,能谱EDS+150元,衍射+150元,mapping只需要1个位置550元;2个位置800元 3)    EELS:1500元/点 4)    磁性指:Fe,Co,Ni元素或者磁铁可以有响应的材料,形貌15张;形貌+高分辨20张,简单制样另议

测试仪器

仪器名称:high-resolution transmission electron microscopy 仪器型号:JEM-2100F 品       牌:日本电子 标       签:高分辨透射电子显微镜,磁性透射,非磁性透射,mapping,能谱,场发射 主要特点: 1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。

仪器技术参数

1)    点分辨率:0.19nm 2)    线分辨率:0.14nm 3)    加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV 4)    倾斜角:25 5.STEM 5)    分辨率:0.20nm

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