高温高分辨X射线衍射(XRD)测试
适用领域
1) 物相定性和定量分析、晶型鉴别、结晶度测定以及晶胞参数精确测定 2) 微小区域的物相鉴定以及实现二维(2D)衍射功能，得到直接可视化的德拜环 3) 试样处于室温至1600℃状态下的结构分析。
面向学科
广泛应用于材料、地矿、化工、冶金、机械、制药等
样品要求
粉末 薄膜 块材、厚度在10~100nm之间(xrr)、薄膜
收费标准
500元/小时 根据不同温度(最高1600℃)、升温速率请联系客服
测试仪器
仪器名称：高温高分辨X射线衍射仪(XRD)
仪器型号：Empyrean锐影
仪器厂家：荷兰PANalytical帕纳科
关键字：高温XRD、高温X射线衍射、XRD
仪器简要：帕纳科锐影(Empyrean)X射线衍射仪采用了先进的PIXcel3D矩阵探测器，配备有平板样品台、旋转透射样品台及三轴样品台以及多种功能的附件，可对粉末、薄膜、纳米材料及块状样品进行多种方式的测试。
仪器参数
1) 变温XRD(1600℃)、线扫、摇摆 扫描等、掠入射反射xrr、二维倒异空间图RSM 2) 最大管压：60kV；最大管流：60mA， 3) 2q角度范围：-110度到162度 4) 角度重现性：+/- 0.0001 度 5) 最小可控步长：0.0001 度， 6) 探测器计数矩阵：256x256 pixcel 7) 像素大小：55mmx55mm 8) 分辨率：FWHM=0.028°
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