场发射电子探针
适用领域
1) 金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定。 2) 金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域。 3) 高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析。 4) 可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测。 5) 进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
面向学科
化学、化工、高分子、材料、金属、材料、地质等
样品要求
1) 样品要求:粉末、薄膜、块体均可。粉末10mg,块体样品高度小于15mm、长宽小于25mm 2) 特别注意:样品上下表面平行,测试面务必抛光;不导电样品需要喷金或喷碳;最好标记好分析面上的测试点,未标记测试位置,测试时只选有代表性、较平整位置测试;
收费标准
1) WDS(波谱面分析):4个元素以内800/样,4个元素以上200元/元素,分辨率512*384; 2) WDS(波谱线分析):4个元素以内400/样,4个元素以上100元/元素; 3) WDS(波谱定量点):4个元素以内,三个相(最多5点实验结果)以内每个样品800元,4个元素以上150元/元素; 4) 微量元素和超轻元素在正常价格上增加150元/元素 5) 喷金/喷碳制样:300元/次
测试仪器
仪器名称:场发射电子探针 仪器型号:JXA-8530F Plus 仪器厂家:日本电子 关键字:波谱面分析、波谱线分析、波谱定量点、EPMA、场发射、电子探针 仪器简要:日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),最新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供更高的通量,并保持着极高的稳定性,能实现更广泛的EPMA应用,JXA-8530F Plus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。
仪器参数
1) 元素分析范围(WDS):: Be to U 2) X射线范围(WDS谱):0.087-9.3nm 3) X射线光谱仪数量(WDS):5 4) 样品最大尺寸: 100mm*100mm*50mm(H) 5) 加速电压: 1-30Kv(每次0.1Kv) 6) 探针电流稳定性: ±0.3%/h(10kV,50nA) 7) 二次电子图像分辨率:3 nm at WD 11 mm, 30 kV 20 nm at 10 kV, 10 nA, WD 11 mm 50 nm at 10 kV, 100 nA, WD 11 mm 8) 放大倍数: ×40 to ×300,000 (WD 11 mm) 9) 扫描图像像素分辨率:最高 5,120×3,840