透射电子显微镜分析(G20)

分析样例

1)    样例 2)    样例

适用领域

1)    反映样品组织形态的形貌，可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征 2)    微区元素定性、定量及半定量的分析（EDX） 3)    材料的物质内部显微结构电子衍射分析（SAED) 4)    广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学；金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)    粉末：            5mg以上（尽量充分研磨） 2)    液体样品：     1mL以上（无沉淀） 3)    注意标注：     样品有无磁性、毒性、挥发性等信息

收费标准

1)    无磁性样品：             形貌观察    200元/样品             选区衍射    +80元             能谱           +80元 2)    磁性样品：             形貌观察    400元/样品             选区衍射    +150元             能谱           +150元 3)    制样费：             普通铜网    免费             微栅铜网    20元每个             超薄碳膜    30元每个             镍网           50元每个             负染           100元/样

分析仪器

仪器名称：透射电子显微镜 仪器型号：Tecnai G2 20 仪器缩写：TEM 生产厂家：美国FEI公司 仪器标签：形貌观察，能谱分析，选区电子衍射

仪器技术参数

1)    最大放大： 80万倍 (800,000×) 2)    点分辨率： 0.24 nm 3)    加速电压： 200KV 4)    最小束斑尺寸：0.5nm 5)    样品台： 普通单、双倾台，铍双倾台 6)    最大倾转角：±40° 7)    X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92 8)    X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV