透射电子显微镜分析(G20)

透射电子显微镜分析(G20)

¥200.00

  • 型号: Tecnai G2 20
  • 商品库存: 有现货

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分析样例

1)    样例 2)    样例

适用领域

1)    反映样品组织形态的形貌,可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征 2)    微区元素定性、定量及半定量的分析(EDX) 3)    材料的物质内部显微结构电子衍射分析(SAED) 4)    广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学;金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)    粉末:            5mg以上(尽量充分研磨) 2)    液体样品:     1mL以上(无沉淀) 3)    注意标注:     样品有无磁性、毒性、挥发性等信息

收费标准

1)    无磁性样品:             形貌观察    200元/样品             选区衍射    +80元             能谱           +80元 2)    磁性样品:             形貌观察    400元/样品             选区衍射    +150元             能谱           +150元 3)    制样费:             普通铜网    免费             微栅铜网    20元每个             超薄碳膜    30元每个             镍网           50元每个             负染           100元/样

分析仪器

仪器名称:透射电子显微镜 仪器型号:Tecnai G2 20 仪器缩写:TEM 生产厂家:美国FEI公司 仪器标签:形貌观察,能谱分析,选区电子衍射

仪器技术参数

1)    最大放大: 80万倍 (800,000×) 2)    点分辨率: 0.24 nm 3)    加速电压: 200KV 4)    最小束斑尺寸:0.5nm 5)    样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台 6)    最大倾转角:±40° 7)    X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92 8)    X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV


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