原位场发射环境扫描电镜(SEM)

原位场发射环境扫描电镜(SEM)

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原位场发射环境扫描电镜(SEM)

应用范围

1.多种样品(包括导电样品、不导电样品、含水含油样品、加热样品等等)的表面形貌、成分分析 2.加热条件下材料演化过程动态表征。

收费标准

1) 环扫,低温,加热:600元/小时; 2) 现场测试:费用翻倍

仪器信息

仪器名称: 原位场发射环境扫描电镜(SEM) 仪器品牌: FEI 仪器型号: Quanta 650 FEG

功能参数

1.分辨率: 二次电子: 高真空模式1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV 高真空减速模式2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可选项) 低真空模式1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV 环境真空模式1.4nm @ 30kV 背散射电子: 高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV 扫描透射STEM探测器: 0.8nm @ 30kV 2.加速电压:200V~30kV,连续可调 3.配备制冷、加热原位样品台,温度范围-165℃到1400℃


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