原位球差校正环境透射电子显微镜(Cs-corrected TEM)

原位球差环境透射电子显微镜(可现场测试)

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原位球差校正环境透射电子显微镜(Cs-corrected TEM)

应用范围

1.能源、催化材料高分辨电子显微结构分析 2.反应条件下,材料原子结构原位动态观测

收费标准

1) 静态分析:   3000元/小时; 2) 原位测试(不含芯片): 3000元/小时; 3) 现场测试:加收50%;

仪器信息

仪器名称: 原位球差校正环境透射电子显微镜(Cs-corrected TEM) 仪器品牌: FEI 仪器型号: Titan Themis ETEM G3

功能参数

1.X-FEG高亮度热场发射电子枪 2.加速电压:80kV,200kV,300kV 3.标准分辨率STEM <0.136 nm, TEM<0.1nm;环境模式分辨率(<0.5mbar气氛):STEM<0.12nm,TEM<0.12nm 4.压差物镜设计实现10-3-2000Pa气氛环境的直接加载;适用气氛:Air、N2、CO、CO2、H2、N2O、O2、H2O等一种或多种气氛且比例可调混气。 5.内置反应气体分析(RGA,质谱仪检测) 6.NanoEx-i/v样品台,最高加热1000oC 7.GatanOne view高速相机 8.GIF Quantum ER能量过滤系统,<0.1eV分辨率


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