球差透射电子显微镜(Cs-corrected TEM)

球差透射电子显微镜(Cs-corrected TEM)

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  • 品牌: JEOL
  • 型号: JEOL JEM-ARM200F
  • 商品库存: 有现货
  • 销量: 1

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球差透射电子显微镜(Cs-corrected TEM)

应用范围

可以对各种无机材料做原子分辨率晶体结构、电子结构、微区成分分析。

收费标准

1) 静态分析 3000元/小时; 2) 现场测试:加收50%;

仪器信息

仪器名称: 球差透射电子显微镜(Cs-corrected TEM) 仪器品牌: JEOL 仪器型号: JEM-ARM200F

功能参数

1.成像模式:STEM,HAADF, MAADF, BF, ABF, TEM 2.加速电压:200, 120, 80KV 3.热场发射电子枪 4.束斑像差矫正器 5.STEM点分辨率0.08nm 6.100mm2SDD能谱 7.GIF Quantum ER能量过滤系统


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