测试快、效率高、可先测后付

台阶仪

¥100.00

  • 型号: 布鲁克Dektak XT
  • 商品库存: 有现货

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仪器简介:美国布鲁克DEKTAK XT适用于纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域。


仪器参数:测量重复性:5Å,1δ(10000Å的标准台阶) 最大扫描长度:55mm 标准垂直测量范围:1mm 扫描方式:线性扫描(基于精确光学平面的样品台)


测试项目:薄膜厚度、平整度 

                 测试3个点位    (测试周期快,1-2个工作日,即到即测)


样品要求:块状固体或者薄膜,长宽最好在10mm×10mm(不做特殊要求),高度(厚度)不超过垂直测量范围1mm


详情咨询:QQ:1174840246

                 微信:MINI-lzt




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