适用领域
广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域
主要功能
TEM形貌观察及衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping
样品要求
1) 粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）； 2) 样品要求：粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些； 3) 若样品有磁性（含铁/钴/镍/锰元素），务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任； 4) 由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌。
收费标准
1) 非磁性：形貌+高分辨 400元，STEM 400元，能谱EDS点扫+100元，线扫+200元，衍射+100元，mapping 400元； 2) 弱磁性（含铁 钴 镍 锰等元素，但不能被磁铁吸起来）：形貌+高分辨 500元，STEM 500元，能谱EDS点扫+150元，线扫+250元，衍射+150元，mapping 600元； 3) 强磁性（含铁 钴 镍 锰等元素，且能被磁铁吸起来）：形貌+高分辨 650元，STEM 650元，能谱EDS点扫+160元，线扫+300元，衍射+160元，mapping 650元； 4) 说明：磁性指 Fe，Co，Ni元素或者磁铁可以有响应的材料，形貌13-15张；形貌+高分辨17-20张；需要微栅/超薄碳膜制样 +50元/样； 5) 德国徕卡超薄切片制样：冷冻切片：700元/样 ； 常温切片：500元/样 ；包埋：100元/样；有机聚合物样品做切片都得在冷冻条件下做切片 6) 锇酸染色制样：600元/样
测试仪器
仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300 kV)
仪器型号: Tecnai G2 F30
仪器厂家: FEI
仪器产地: 美国
Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。
主要规格及技术指标
1) 加速电压： 200 kV～300 kV 2) 点分辨率：0.20 nm 3) 线分辨率：0.102 nm 4) 信息限度：0.14 nm 5) TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx 6) 相机长度（mm）80 - 4，500 7) 最大衍射角度 ±12 8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm 9) STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx 10) 能谱分辨率：≤ 136 eV 11) 能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV